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首页> IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence> Multiple resolution texture analysis and classification.

Multiple resolution texture analysis and classification.

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第一作者： S,Peleg
第一单位： Center for Automation Research, University of Maryland, College Park, MD 20742; Department of Computer Science, the Hebrew University of Jerusalem, 91904 Jerusalem, Israel.
作者： S,Peleg [1] ; J,Naor ; R,Hartley ; D,Avnir
作者单位： Center for Automation Research, University of Maryland, College Park, MD 20742; Department of Computer Science, the Hebrew University of Jerusalem, 91904 Jerusalem, Israel. [1]
DOI 10.1109/tpami.1984.4767557
PMID 21869220
发布时间 2019-11-12
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IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence

1984年6卷4期

518-23页

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