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    首页> IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence> Multiple resolution texture analysis and classification.

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    作者： S,Peleg [1] ; J,Naor ; R,Hartley ; D,Avnir
    作者单位： Center for Automation Research, University of Maryland, College Park, MD 20742; Department of Computer Science, the Hebrew University of Jerusalem, 91904 Jerusalem, Israel. [1]
    DOI 10.1109/tpami.1984.4767557
    PMID 21869220
    发布时间 2019-11-12
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    • 浏览213
    IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence

    IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence

    1984年6卷4期

    518-23页

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