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    首页> Chemical Society reviews> Principle and applications of peak force infrared microscopy.

    Principle and applications of peak force infrared microscopy.

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    第一作者： Le,Wang
    第一单位： Department of Chemistry, Lehigh University, Bethlehem, PA, 18015, USA. xgx214@lehigh.edu.
    作者： Le,Wang [1] ; Haomin,Wang [1] ; Xiaoji G,Xu [1]
    作者单位： Department of Chemistry, Lehigh University, Bethlehem, PA, 18015, USA. xgx214@lehigh.edu. [1]
    主题词 显微镜检查, 原子力(Microscopy, Atomic Force)
    DOI 10.1039/d2cs00096b
    PMID 35703031
    发布时间 2022-07-06
    提交
    • 浏览0
    Chemical Society reviews

    Chemical Society reviews

    2022年51卷13期

    5268-5286页

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