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35例老年人的18F-FDG SPECT符合线路脑代谢显像与记忆智力

摘要:

目的探讨老年人脑代谢显像与记忆、智力的关系,为神经心理测验与脑代谢显像结合评估脑功能积累经验.方法自述记忆下降的老年人35例,全部作18F-FDG SPECT符合线路、MR、韦氏记忆、瞬时/延时记忆测验以及简易智力精神状态检查.按脑代谢正常及损害程度分为3组,比较各组记忆、智力差异.结果三组的瞬时/延时记忆测验、1分钟遗忘率以及MQ>90例数均显示代谢损害组的成绩较差(P<0.01,P<0.05),MMSE差别不明显(P>0.05).结论大脑糖代谢状况与记忆测验成绩呈正相关关系.记忆功能较智力对大脑糖代谢损害更为敏感.

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作者: 俞正炎 [1] 崔思松 [1] 叶荣真 [1] 杨剑英 [1] 唐熙 [1] 唐忠群 [2] 朱汉民 [1]
期刊: 《中国神经精神疾病杂志》2004年30卷2期 145-147页 ISTICPKUCSCD
分类号: R816.1
栏目名称: 论著与学术交流
DOI: 10.3969/j.issn.1002-0152.2004.02.024
发布时间: 2004-06-11
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