换一批
换一批心血管植入式电子装置导线相关静脉血栓形成的危险因素分析:112例报告
Risk factors for venous thrombosis related to the lead of cardiovascular implan-table electronic device: an analysis of 112 cases
摘要：
目的 研究心血管植入式电子装置(CIED)导线相关静脉血栓形成的相关危险因素,为临床预防提供理论依据.方法 选取2013年9月至2015年12月解放军总医院心血管内科使用CIED且随访资料完整的住院患者112例,根据术后血管超声检查结果进行分组,血栓组56例,年龄(71.86±8.35)岁;非血栓组56例,年龄(71.23±10.62)岁,运用多因素logistic回归分析对CIED导线相关静脉血栓形成的危险因素进行分析.结果 两组房颤患者数、植入除颤导线患者数、服用抗凝药物患者数和左室射血分数、全血糖化血红蛋白水平以及手术中静脉穿刺次数、手术时间、导线数量相比较,差异均有统计学意义(P<0.05).多因素logistic回归分析表明,房颤、术中静脉穿刺次数、手术时间及导线数量是CIED导线相关静脉血栓形成的危险因素,服用抗凝药物是保护因素.结论 房颤、静脉穿刺次数、手术时间及导线数量是CIED导线相关静脉血栓形成的独立危险因素.
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作者：
作者单位：
解放军总医院心血管内科,北京,100853
[1]
济南军区青岛第二疗养院,青岛,266000
[2]
期刊：
《中华老年多器官疾病杂志》2017年16卷4期 257-260页
ISTIC
关键词：
心血管植入式电子装置深静脉血栓危险因素心血管疾病cardiovascular implantable electronic devicedeep vein thrombosisrisk factorscardiovascular disease
主题词：
静脉血栓形成(Venous Thrombosis)危险因素(Risk Factors)电子(Electrons)设备和供应(Equipment and Supplies)心血管疾病(Cardiovascular Diseases)
分类号：
R541
栏目名称：
临床研究
DOI：
10.11915/j.issn.1671-5403.2017.04.060
发布时间：
2017-05-18
基金项目：
军队重大项目(AWS13C008) This work was supported by the Major Project of Chinese PLA
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