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Journal of microscopy

SCI SCIE MEDLINE CA BP
SCI影响因子:1.633 综合评价: ★★★★

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1. Microtexture analysis of copper-doped iron oxide thin films prepared by air pneumatic spray. 69-80页

作者:Faouzi,Ghribi; Ştefan,Ţălu; Fethi,Chouikh; Yazid,Bouznit; Samah,Boudour; Alia,Méndez-Albores; Gabriel Trejo,Cordova

2. ToTEM: A software for fast TEM image simulation. 93-104页

作者:P J,Yuan; K P,Wu; S W,Chen; D L,Zhang; C H,Jin; Y,Yao; F,Lin

3. Calibration by differentiation - Self-supervised calibration for X-ray microscopy using a differentiable cone-beam reconstruction operator. 81-92页

作者:Mareike,Thies; Fabian,Wagner; Yixing,Huang; Mingxuan,Gu; Lasse,Kling; Sabrina,Pechmann; Oliver,Aust; Anika,Grüneboom; Georg,Schett; Silke,Christiansen; Andreas,Maier

4. Several factors influencing energy-loss near-edge structure calculations using Wien2k. 61-68页

作者:Yifan,Ding; Junkai,Yang; Yu,Ji; Qinwen,Guo; Xiangfei,Li; Luyao,Wang; Ying,Meng; Xi,Shen; Yuan,Yao; Richeng,Yu

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