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Break junction under electrochemical gating: testbed for single-molecule electronics.

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第一作者： Cancan,Huang
第一单位： Department of Chemistry and Biochemistry, University of Bern Freiestrasse 3, CH-3012 Bern, Switzerland. hong@dcb.unibe.ch.
作者： Cancan,Huang [1] ; Alexander V,Rudnev ; Wenjing,Hong ; Thomas,Wandlowski
作者单位： Department of Chemistry and Biochemistry, University of Bern Freiestrasse 3, CH-3012 Bern, Switzerland. hong@dcb.unibe.ch. [1]
DOI 10.1039/c4cs00242c
PMID 25560965
发布时间 2015-02-10
提交
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Chemical Society reviews

Chemical Society reviews

2015年44卷4期

889-901页

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