摘要目的:探讨应用染色体技术诊断智力低下病因的意义.方法:对86例智力低下儿应用常规外周血淋巴细胞染色体标本制备、G显带、镜下核型分析和染色体脆性位点表达研究,另选正常儿童30例为对照组.结果:86例受检者中检出异常核型24例,检出率为27.91%.实验组染色体脆性位点的发生率为25.02%,对照组为5.27%,两组相比差异有统计学意义(P<0.01).结论:染色体异常是导致智力低下发生的重要原因之一,智力低下与染色体畸变和脆性部位表达率有一定的相关性.
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