摘要目的 探讨极低出生体质量(VLBW)和超低出生体质量(ELBW)早产儿发生真菌性败血症的危险因素,为VL-BW和ELBW的早期防治提供理论依据.方法 选取2013年6月-2016年6月黄冈市中心医院收住院的VLBW和ELBW早产儿为研究对象,根据其住院期间是否发生真菌性败血症分为研究组(53例)和对照组(331例).比较两组研究对象的临床资料,采用Pearson检验方法及多因素Logistic回归分析其发生真菌性败血症的危险因素.结果 53例早产儿发生真菌性败血症,真菌性败血症发生率为13.80%.单因素分析结果显示,两组在胎龄<32周、肠道外营养≥14 d、使用抗菌药物≥7d、联合使用2种及以上抗菌药物、气管插管、经外周静脉置入中心静脉导管(PICC)留置≥14 d及住院时间>28 d方面比较,差异有统计学意义(P<0.05).多因素Logistic回归分析显示,抗菌药物使用≥7 d和PICC留置≥14 d是VLBW和ELBW早产儿发生真菌性败血症的独立危险因素(P<0.05).结论 VLBW和ELBW早产儿发生真菌性败血症的危险因素为长时间使用抗菌药物和留置PICC,临床应引起重视.
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