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孕期外源物暴露致子代HPA轴改变与不良妊娠结局的相关性研究

摘要孕期不良环境所引起的子代低出生体质量以及不良妊娠结局,一般认为宫内内分泌发育编程改变,其在下丘脑—垂体—肾上腺(HPA)轴介导作用下发生[1].孕期外源物暴露致子代HPA轴编程改变,表现为遗传修饰异常,影响胎儿的重要内分泌轴的发育.外源有害物质通过母体—胎盘—胎儿生物学单位,多途径地影响宫内胎儿发育,造成其出生后轴发育编程改变及成年后多种慢性疾病易感.HPA轴实为机体应激的关键神经内分泌轴,其无论是在出生前的应激防御应答中还是在出生后,均起到重要作用,同时还是宫内时期胎儿容易遭受损失的重要靶位.孕期不良环境可引起子代低出生体质量及其在后续成长发育期间及成年后也易受到某些慢性疾病的干扰,如代谢性疾病和神经精神性疾病等.本文就孕期外源物暴露致子代HPA轴发育编程改变,与不良妊娠结局的相关性及成年后多种慢性疾病易感的研究进展综述如下.

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作者 王芬 [1] 郭喻 [2] 付彪 [3] 敖英 [2] 李芬 [1] 学术成果认领
分类号 R715.3
栏目名称 综述
DOI 10.7620/zgfybj.j.issn.1001-4411.2019.15.75
发布时间 2019-08-28
基金项目
湖北省卫生计生委科研基金面上项目
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中国妇幼保健

中国妇幼保健

2019年34卷15期

3626-3628页

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