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BGA芯片管脚三维坐标激光扫描测量系统

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项目年度编号 0500640035
中图分类号 TN492TN407TH744.5
成果公布年份 2004
成果简介 项目研究的背景及用途:BGA芯片管脚三维坐标激光扫描测量系统是国家自然科学基金资助项目。球栅阵列BGA(BallGridArray)芯片是一种典型的采用SMT的集成电路芯片,其管脚均匀地分布在芯片的底面,这样在芯片体积不变的情况下可大幅度增加管脚数量。在安装时要求管脚具有很高的位置精度,如果管脚三维尺寸误差较大,特别在高度方向,造成管脚顶点不共面,安装时个别管脚和线路板接触不良,会导致漏接、虚接。因此要实现精确安装就要求管脚具有很高的精度。其管脚参数中,主要的指标有:①管脚共面性;②管脚位置偏差;③管脚实际间距;④管脚高度;⑤球形管脚的直径。这些参数均可通过计算芯片管脚顶点的三维坐标求出。其中,管脚的共面性是最重要的一项指标。技术原理及工艺流程:应用线结构激光对BGA芯片管脚进行扫描,CCD摄像机摄取管脚图像,通过对分立点图像的实时处理和分析,可测得BGA芯片管脚的三维坐标,由管脚顶点的三维坐标求出BGA管脚的各个参数。成果水平及主要技术指标:国内领先水平。三维坐标测量精度:10μm;共面性测量精度:0.1mm。主要原材料及来源:线结构激光器及CCD摄像机等外购,机械传动及控制设备等自制。总投资:50万元。市场分析及效益预测:该系统可应于BGA管脚各种几何参数的在线和离线测量,市场前景广阔。合作方式及条件:委托开发或联合开发。
完成单位 天津大学
完成人 学术成果认领
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