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首页> International Journal of Pharmaceutics> At-line validation of optical coherence tomography as in-line/at-line coating thickness measurement method

At-line validation of optical coherence tomography as in-line/at-line coating thickness measurement method

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第一作者： Wolfgang, Matthias
作者： Wolfgang, Matthias [1] ; Peter, Anna [2] ; Wahl, Patrick [3] ; Markl, Daniel ; Zeitler, J. Axel ; Khinast, Johannes G.
作者单位： Res Ctr Pharmaceut Engn GmbH, Graz, Austria [1] Univ Strathclyde, Inst Pharm & Biomed Sci, Glasgow, Lanark, Scotland [2] Univ Cambridge, Dept Chem Engn & Biotechnol, Cambridge, England [3]
关键词 Optical coherence tomography (OCT)Terahertz pulsed imaging (TPI)X-ray micro computed tomography (X mu CT)Reference materialCoating thickness variability
发布时间 2020-11-13
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International Journal of Pharmaceutics

International Journal of Pharmaceutics

2019年572卷

Article 118766-Article 118766页

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