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Long-term reliability of Al_2O_3 and Parylene C bilayer encapsulated Utah electrode array based neural interfaces for chronic implantation

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作者： Xianzong Xie ^[1] ; Loren Rieth ^[2] ; Layne Williams ^[3] ; Sandeep Negi ; Rajmohan Bhandari ; Ryan Caldwell ; Rohit Sharma ; Prashant Tathireddy ; Florian Solzbacher

作者单位： Department of Electrical and Computer Engineering, University of Utah, Salt Lake City, UT, USA ^[1] Balckrock Microsystems, Salt Lake City, UT, USA ^[2] University of Utah, Salt Lake City, UT, USA ^[3]

关键词 Utah electrode array neural interface brain machine interface long-term reliability atomic layer deposited (ALD) Al_2O_3 Parylene bilayer encapsulation

发布时间 2014-12-11

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Journal of neural engineering

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2014年11卷2期

026016-1-026016-9页

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