Effect of bias voltage and temperature on lifetime of wireless neural interfaces with Al2O3 and parylene bilayer encapsulation

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作者： Xie, Xianzong ^[1] ; Rieth, Loren ^[1] ; Caldwell, Ryan ^[1] ; Negi, Sandeep ^[1] ; Bhandari, Rajmohan ^[1] ; Sharma, Rohit ^[1] ; Tathireddy, Prashant ^[1] ; Solzbacher, Florian ^[1]

作者单位： Univ Utah, Salt Lake City, UT 84112 USA ^[1]

关键词 Neural interface Utah electrode array Atomic layer deposited (ALD) Al2O3 Parylene Bilayer encapsulation Continuous bias voltage Accelerated aging Long-term reliability

发布时间 2015-09-23

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2015年17卷1期

1.1-1.8页

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