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Characterizing hot-carrier transport in silicon heterostructures with the use of ballistic-electron-emission microscopy.

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第一作者： Bell

作者： Bell ; Manion ; Hecht ; Kaiser ; Fathauer ; Milliken

DOI 10.1103/physrevb.48.5712

PMID 10009102

发布时间 2019-11-20

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Physical review. B, Condensed matter

1993年48卷8期

5712-5715页

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