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Compression of Secondary Ion Microscopy Image Sets Using a Three-dimensional Wavelet Transformation.

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第一作者： M G,Wolkenstein
第一单位： Institute of Analytical Chemistry, Vienna University of Technology, Getreidemarkt 9/151, 1060 Vienna, Austria
作者： M G,Wolkenstein [1] ; H,Hutter
作者单位： Institute of Analytical Chemistry, Vienna University of Technology, Getreidemarkt 9/151, 1060 Vienna, Austria [1]
DOI 10.1007/s100059910007
PMID 10675445
发布时间 2025-11-17
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Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

Microscopy and microanalysis

2000年6卷1期

68-75页

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