换一批In situ high resolution electron microscopy/electron energy loss spectroscopy observation of wetting of a Si surface by molten Al.
第一作者：
S,Tsukimoto
第一单位：
Department of Quantum Engineering, Nagoya University, Nagoya 464-8603, Japan.
作者：
DOI
10.1046/j.1365-2818.2001.00905.x
PMID
11454150
发布时间
2019-09-06
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