Elemental analysis with a full-field X-ray fluorescence microscope and a CCD photon-counting system.

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第一作者： Takuji,Ohigashi

第一单位： Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, 1-1-1 Tennoudai, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan.

作者： Takuji,Ohigashi ^[1] ; Norio,Watanabe ; Hiroki,Yokosuka ; Tatsuya,Aota ; Hidekazu,Takano ; Akihisa,Takeuchi ; Sadao,Aoki

作者单位： Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, 1-1-1 Tennoudai, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan. ^[1]

DOI 10.1107/s0909049502004272

PMID 11972365

发布时间 2019-06-05

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Journal of synchrotron radiation

128-31页

参考文献：
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