Variation of the in-plane structure with depth revealed by grazing incidence x-ray diffraction in a thin Langmuir-Blodgett film.
第一作者:
V,Dupres
第一单位:
Laboratoire de Physique des Matériaux et des Surfaces, Université de Cergy-Pontoise, Neuville sur Oise, 95 031 Cergy-Pontoise Cedex, France.
作者:
DOI
10.1103/PhysRevE.66.012701
PMID
12241399
发布时间
2003-11-03
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