On the relevance of the atomic-scale contact potential difference by amplitude-modulation and frequency-modulation Kelvin probe force microscopy.
第一作者:
Laurent,Nony
第一单位:
Aix-Marseille Université, IM2NP, Centre Scientifique de Saint-Jérôme, Avenue Escadrille Normandie-Niemen, Case 151, F-13397 Marseille Cedex 20, France. laurent.nony@im2np.fr
作者:
DOI
10.1088/0957-4484/20/26/264014
PMID
19509441
发布时间
2009-06-17
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Nanotechnology
264014页
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