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首页> Ultramicroscopy> Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy.

Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy.

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第一作者： Andreas,Rosenauer
第一单位： Institut für Festkörperphysik, Universität Bremen, Otto-Hahn-Allee 1, D-28359 Bremen, Germany. rosenauer@ifp.uni-bremen.de
作者： Andreas,Rosenauer [1] ; Thorsten,Mehrtens ; Knut,Müller ; Katharina,Gries ; Marco,Schowalter ; Parlapalli Venkata,Satyam ; Stephanie,Bley ; Christian,Tessarek ; Detlef,Hommel ; Katrin,Sebald ; Moritz,Seyfried ; Jürgen,Gutowski ; Adrian,Avramescu ; Karl,Engl ; Stephan,Lutgen
作者单位： Institut für Festkörperphysik, Universität Bremen, Otto-Hahn-Allee 1, D-28359 Bremen, Germany. rosenauer@ifp.uni-bremen.de [1]
DOI 10.1016/j.ultramic.2011.04.009
PMID 21864772
发布时间 2011-08-25
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Ultramicroscopy

Ultramicroscopy

2011年111卷8期

1316-27页

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