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    首页> Journal of the American Society for Mass Spectrometry> Depth profiling (ICP-MS) study of trace metal 'grains' in solid asphaltenes.

    Depth profiling (ICP-MS) study of trace metal 'grains' in solid asphaltenes.

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    第一作者： Avin E,Pillay
    第一单位： Department of Chemistry, The Petroleum Institute, Abu Dhabi, UAE. apillay@pi.ac.ae
    作者： Avin E,Pillay [1] ; Ghada,Bassioni ; Sasi,Stephen ; Fritz E,Kühn
    作者单位： Department of Chemistry, The Petroleum Institute, Abu Dhabi, UAE. apillay@pi.ac.ae [1]
    DOI 10.1007/s13361-011-0157-1
    PMID 21953195
    发布时间 2021-10-20
    提交
    • 浏览6
    Journal of the American Society for Mass Spectrometry

    Journal of the American Society for Mass Spectrometry

    2011年22卷8期

    1403-8页

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