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第一作者：
Murong,Lang
第一单位：
Device Research Laboratory, Department of Electrical Engineering, University of California, Los Angeles, California 90095, USA.
作者：
主题词
铝(Aluminum);铋(Bismuth);导电性(Electric Conductivity);材料试验(Materials Testing);膜, 人工(Membranes, Artificial);纳米结构(Nanostructures);粒子大小(Particle Size);硒(Selenium);表面特性(Surface Properties)
DOI
10.1021/nn204239d
PMID
22147687
发布时间
2013-11-21
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