Atomic force microscopy: a tool for studying biophysical surface properties underpinning fungal interactions with plants and substrates.
第一作者:
Elizabeth,Adams
第一单位:
Delaware Biotechnology Institute, University of Delaware, Newark, DE, USA.
作者:
医学主题词
真菌(Fungi);宿主与病原体相互作用(Host-Pathogen Interactions);显微镜检查, 原子力(Microscopy, Atomic Force);植物(Plants);孢子, 真菌(Spores, Fungal);表面特性(Surface Properties)
DOI
10.1007/978-1-61779-501-5_10
PMID
22183653
发布时间
2011-12-20
- 浏览0
相似文献
- 中文期刊
- 外文期刊
- 学位论文
- 会议论文


换一批



