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    首页> ACS applied materials & interfaces> Electrical resistivity of assembled transparent inorganic oxide nanoparticle thin layers: influence of silica, insulating impurities, and surfactant layer thickness.

    Electrical resistivity of assembled transparent inorganic oxide nanoparticle thin layers: influence of silica, insulating impurities, and surfactant layer thickness.

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    作者： Stephanie B,Bubenhofer [1] ; Christoph M,Schumacher ; Fabian M,Koehler ; Norman A,Luechinger ; Georgios A,Sotiriou ; Robert N,Grass ; Wendelin J,Stark
    作者单位： Functional Materials Laboratory, Institute for Chemical and Bioengineering, ETH Zurich, CH-8093 Zurich, Switzerland. [1]
    DOI 10.1021/am300319r
    PMID 22545730
    发布时间 2022-01-29
    提交
    • 浏览16
    ACS applied materials & interfaces

    ACS applied materials & interfaces

    2012年4卷5期

    2664-71页

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