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首页> The Review of scientific instruments> Note: grazing incidence small and wide angle x-ray scattering combined with imaging ellipsometry.

Note: grazing incidence small and wide angle x-ray scattering combined with imaging ellipsometry.

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第一作者： V,Körstgens
第一单位： Technische Universität München, Physik-Department, Lehrstuhl für Funktionelle Materialien, James-Franck-Str. 1, 85748 Garching, Germany.
作者： V,Körstgens [1] ; R,Meier ; M A,Ruderer ; S,Guo ; H-Y,Chiang ; J,Perlich ; S V,Roth ; R,Gehrke ; P,Müller-Buschbaum
作者单位： Technische Universität München, Physik-Department, Lehrstuhl für Funktionelle Materialien, James-Franck-Str. 1, 85748 Garching, Germany. [1]
DOI 10.1063/1.4738880
PMID 22852742
发布时间 2012-08-02
提交
  • 浏览2
The Review of scientific instruments

The Review of scientific instruments

2012年83卷7期

076107页

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