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    首页> Analytical chemistry> Thickness determination of subnanometer layers using laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry.

    Thickness determination of subnanometer layers using laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry.

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    作者： Bodo,Hattendorf [1] ; Jorge,Pisonero ; Detlef,Günther ; Nerea,Bordel
    作者单位： ETH Zurich, Department of Chemistry, Laboratory for Inorganic Chemistry, Wolfgang Pauli Str. 10, CH-8093 Zurich, Switzerland. bodo@inorg.chem.ethz.ch [1]
    DOI 10.1021/ac302137x
    PMID 22978293
    发布时间 2012-10-16
    提交
    • 浏览39
    Analytical chemistry

    Analytical chemistry

    2012年84卷20期

    8771-6页

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