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首页> Optics letters> Long-path second-harmonic interferometer with nanosecond time resolution: reliable diagnostic tool for electron density measurement in pulsed plasma devices.

Long-path second-harmonic interferometer with nanosecond time resolution: reliable diagnostic tool for electron density measurement in pulsed plasma devices.

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第一作者： T,Del Rosso
第一单位： Department of Physics E. Fermi, University of Pisa, Pisa, Italy. tommaso.delrosso@fis.puc‑rio.br
作者： T,Del Rosso [1] ; F,Giammanco ; M G,Anderson ; F,Conti ; A,Balvis ; I,Isakov ; V,Matvienko ; G,Strashnoy ; W,Waggoner ; L,Bonelli ; E,Paganini ; M W,Binderbauer
作者单位： Department of Physics E. Fermi, University of Pisa, Pisa, Italy. tommaso.delrosso@fis.puc‑rio.br [1]
DOI 10.1364/ol.37.003855
PMID 23041882
发布时间 2019-07-03
提交
  • 浏览21
Optics letters

Optics letters

2012年37卷18期

3855-7页

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