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主题词
显微镜检查, 原子力(Microscopy, Atomic Force);显微镜检查, 电子, 扫描(Microscopy, Electron, Scanning);纳米结构(Nanostructures);纳米技术(Nanotechnology);二氧化硅(Silicon Dioxide)
DOI
10.1021/la3042204
PMID
23360298
发布时间
2013-02-19
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Langmuir
2193-9页
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