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Near-infrared Hong-Ou-Mandel interference on a silicon quantum photonic chip.

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作者： Xinan,Xu ^[1] ; Zhenda,Xie ; Jiangjun,Zheng ; Junlin,Liang ; Tian,Zhong ; Mingbin,Yu ; Serdar,Kocaman ; Guo-Qiang,Lo ; Dim-Lee,Kwong ; Dirk R,Englund ; Franco N C,Wong ; Chee Wei,Wong

作者单位： Optical Nanostructures Laboratory, Center for Integrated Science and Engineering, Solid-State Science and Engineering, and Mechanical Engineering, Columbia University, New York, New York 10027, USA. ^[1]

主题词设备设计(Equipment Design);设备失效分析(Equipment Failure Analysis);红外线(Infrared Rays);光(Light);材料试验(Materials Testing);光子(Photons);屈光计检查(Refractometry);散射, 辐射(Scattering, Radiation);硅(Silicon);表面等离激元(Surface Plasmon Resonance)

DOI 10.1364/OE.21.005014

PMID 23482034

发布时间 2018-10-23

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Optics express

Optics express

2013年21卷4期

5014-24页

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