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首页> Micron (Oxford, England : 1993)> An improved Wiener deconvolution filter for high-resolution electron microscopy images.

An improved Wiener deconvolution filter for high-resolution electron microscopy images.

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第一作者： Fang,Lin
第一单位： College of Science, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong 510642, PR China. flin_163@163.com
作者： Fang,Lin [1] ; Chuanhong,Jin
作者单位： College of Science, South China Agricultural University, Guangzhou, Guangdong 510642, PR China. flin_163@163.com [1]
关键词 GrapheneHRTEM imageImproved Wiener deconvolution filterMTFNoise reduction
DOI 10.1016/j.micron.2013.03.005
PMID 23628497
发布时间 2013-07-15
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Micron (Oxford, England : 1993)

Micron (Oxford, England

2013年50卷

1-6页

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