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    首页> Nanotechnology> Functionalized AFM probes for force spectroscopy: eigenmode shapes and stiffness calibration through thermal noise measurements.

    Functionalized AFM probes for force spectroscopy: eigenmode shapes and stiffness calibration through thermal noise measurements.

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    第一作者： Justine,Laurent
    第一单位： Université de Lyon, Laboratoire de Physique, École Normale Supérieure de Lyon, CNRS, 46 allée d'Italie, F-69007, Lyon, France.
    作者： Justine,Laurent [1] ; Audrey,Steinberger ; Ludovic,Bellon
    作者单位： Université de Lyon, Laboratoire de Physique, École Normale Supérieure de Lyon, CNRS, 46 allée d'Italie, F-69007, Lyon, France. [1]
    主题词 算法(Algorithms);校准(Calibration);设备设计(Equipment Design);显微镜检查, 原子力(Microscopy, Atomic Force)
    DOI 10.1088/0957-4484/24/22/225504
    PMID 23644764
    发布时间 2013-05-08
    提交
    • 浏览32
    Nanotechnology

    Nanotechnology

    2013年24卷22期

    225504页

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