换一批
换一批Improved photoluminescence efficiency in UV nanopillar light emitting diode structures by recovery of dry etching damage.
作者：
主题词
干燥法(Desiccation);设备设计(Equipment Design);设备失效分析(Equipment Failure Analysis);采光(Lighting);发光测定法(Luminescent Measurements);纳米结构(Nanostructures);粒子大小(Particle Size);半导体(Semiconductors);紫外线(Ultraviolet Rays)
DOI
10.1166/jnn.2013.7315
PMID
23858920
发布时间
2019-07-15
- 浏览28
相似文献
- 中文期刊
- 外文期刊
- 学位论文
- 会议论文
