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首页> Microprocessors and microsystems> An infrastructure for accurate characterization of single-event transients in digital circuits.

An infrastructure for accurate characterization of single-event transients in digital circuits.

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第一作者： Varadan,Savulimedu Veeravalli
第一单位： Institute of Computer Engineering, Vienna University of Technology, Treitlstrasse 1-3, A-1040 Vienna, Austria.
作者： Varadan,Savulimedu Veeravalli [1] ; Thomas,Polzer [1] ; Ulrich,Schmid [1] ; Andreas,Steininger [1] ; Michael,Hofbauer [2] ; Kurt,Schweiger [2] ; Horst,Dietrich [2] ; Kerstin,Schneider-Hornstein [2] ; Horst,Zimmermann [2] ; Kay-Obbe,Voss [3] ; Bruno,Merk [3] ; Michael,Hajek [4]
作者单位： Institute of Computer Engineering, Vienna University of Technology, Treitlstrasse 1-3, A-1040 Vienna, Austria. [1] Institute of Electrodynamics, Microwave and Circuit Engineering, Vienna University of Technology,Gusshausstrasse 25/354, A-1040 Vienna, Austria. [2] Materials Research Group, Helmholtz Centre for Heavy Ion Research (GSI), Planckstrasse 1, D-64291 Darmstadt, Germany. [3] Institute of Atomic and Subatomic Physics, Vienna University of Technology, Stadionallee 2, A-1020 Vienna, Austria. [4]
关键词 Asynchronous digital designElastic pipelinesIon beam radiationLFSR countersMuller C-elementsRadiation fault-toleranceSET injection experimentsSingle-event transientsSingle-event upsetsSpice modelsTCAD models
DOI 10.1016/j.micpro.2013.04.011
PMID 24748694
发布时间 2024-03-23
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Microprocessors and microsystems

Microprocessors and microsystems

2013年37卷8期

772-791页

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