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Uncertainties in forces extracted from non-contact atomic force microscopy measurements by fitting of long-range background forces.

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作者： Adam,Sweetman ^[1] ; Andrew,Stannard ^[1]

作者单位： The School of Physics and Astronomy, The University of Nottingham, Nottingham, NG7 2RD, U.K. ^[1]

关键词 DFM F(z)NC-AFM STM Si(111)atomic resolution background subtraction force van der Waals

DOI 10.3762/bjnano.5.45

PMID 24778964

发布时间 2024-03-29

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Beilstein journal of nanotechnology

2014年5卷

386-93页

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