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首页> Micron (Oxford, England : 1993)> Scanning probe microscopy investigations of the electrical properties of chemical vapor deposited graphene grown on a 6H-SiC substrate.

Scanning probe microscopy investigations of the electrical properties of chemical vapor deposited graphene grown on a 6H-SiC substrate.

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第一作者： Krzysztof,Gajewski
第一单位： Wrocław University of Technology, Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, ul. Z. Janiszewskiego 11/17, PL-50372 Wrocław, Poland. Electronic address: krzysztof.gajewski@pwr.edu.pl.
作者： Krzysztof,Gajewski [1] ; Daniel,Kopiec [2] ; Magdalena,Moczała [2] ; Adam,Piotrowicz [2] ; Michał,Zielony [2] ; Grzegorz,Wielgoszewski [2] ; Teodor,Gotszalk [2] ; Włodek,Strupiński [3]
作者单位： Wrocław University of Technology, Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, ul. Z. Janiszewskiego 11/17, PL-50372 Wrocław, Poland. Electronic address: krzysztof.gajewski@pwr.edu.pl. [1] Wrocław University of Technology, Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, ul. Z. Janiszewskiego 11/17, PL-50372 Wrocław, Poland. [2] Institute of Electronic Materials Technology, ul. Wolczynska 133, PL-01919 Warsaw, Poland. [3]
关键词 C-AFMGrapheneKPFMSTMSiC
DOI 10.1016/j.micron.2014.08.005
PMID 25203361
发布时间 2018-04-03
提交
  • 浏览15
Micron (Oxford, England : 1993)

Micron (Oxford, England

2015年68卷

17-22页

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