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    首页> Journal of synchrotron radiation> Characteristics of a tapered undulator for the X-ray absorption fine-structure technique at PLS-II.

    Characteristics of a tapered undulator for the X-ray absorption fine-structure technique at PLS-II.

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    第一作者： Nark-Eon,Sung
    第一单位： Pohang Accelerator Laboratory, Pohang University of Science and Technology, Pohang 790-834, Republic of Korea.
    作者： Nark-Eon,Sung [1] ; Ik-Jae,Lee [1] ; Sung-hoon,Jeong [1] ; Seen-Woong,Kang [1]
    作者单位： Pohang Accelerator Laboratory, Pohang University of Science and Technology, Pohang 790-834, Republic of Korea. [1]
    关键词 X-ray absorption fine structuregap-scan modehigh-order harmonictapered modeundulator
    DOI 10.1107/S1600577514015549
    PMID 25343796
    发布时间 2014-10-25
    提交
    • 浏览14
    Journal of synchrotron radiation

    Journal of synchrotron radiation

    2014年21卷Pt 6期

    1282-7页

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