3D ToF-SIMS imaging of polymer multilayer films using argon cluster sputter depth profiling.

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第一作者： James,Bailey

第一单位： Laboratory of Biophysics and Surface Analysis, University of Nottingham , Nottingham NG7 2RD, England.

作者： James,Bailey ^[1] ; Rasmus,Havelund ; Alexander G,Shard ; Ian S,Gilmore ; Morgan R,Alexander ; James S,Sharp ; David J,Scurr

作者单位： Laboratory of Biophysics and Surface Analysis, University of Nottingham , Nottingham NG7 2RD, England. ^[1]

关键词 ToF-SIMS argon depth multilayers polymer profiling

DOI 10.1021/am507663v

PMID 25562665

发布时间 2015-02-05

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ACS applied materials & interfaces

2654-9页

参考文献：
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