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首页> Nanotechnology> Bias assisted scanning probe microscopy direct write lithography enables local oxygen enrichment of lanthanum cuprates thin films.

Bias assisted scanning probe microscopy direct write lithography enables local oxygen enrichment of lanthanum cuprates thin films.

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第一作者： Francesco,Lavini
第一单位： National Research Council CNR-SPIN, University of Roma 'Tor Vergata', Rome I-00133, Italy. NAST Center, University of Roma 'Tor Vergata', Rome I-00133, Italy.
作者： Francesco,Lavini [1] ; Nan,Yang ; Rama K,Vasudevan ; E,Strelcov ; S,Jesse ; M B,Okatan ; I,Kravchenko ; Daniele,Di Castro ; Sergei V,Kalinin ; Giuseppe,Balestrino ; Carmela,Aruta ; Vittorio,Foglietti
作者单位： National Research Council CNR-SPIN, University of Roma 'Tor Vergata', Rome I-00133, Italy. NAST Center, University of Roma 'Tor Vergata', Rome I-00133, Italy. [1]
DOI 10.1088/0957-4484/26/32/325302
PMID 26207015
发布时间 2015-07-29
提交
  • 浏览6
Nanotechnology

Nanotechnology

2015年26卷32期

325302页

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