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首页> Journal of microscopy> Local sample thickness determination via scanning transmission electron microscopy defocus series.

Local sample thickness determination via scanning transmission electron microscopy defocus series.

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第一作者： A,Beyer
第一单位： Materials Science Center and Faculty of Physics, Philipps-Universität Marburg, 35032, Marburg, Germany.
作者： A,Beyer [1] ; R,Straubinger [1] ; J,Belz [1] ; K,Volz [1]
作者单位： Materials Science Center and Faculty of Physics, Philipps-Universität Marburg, 35032, Marburg, Germany. [1]
关键词 STEMaberration correctiondefocus seriessilicon
DOI 10.1111/jmi.12284
PMID 26224521
发布时间 2016-04-14
提交
  • 浏览4
Journal of microscopy

Journal of microscopy

2016年262卷2期

171-7页

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