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Simple technique for high-throughput marking of distinguishable micro-areas for microscopy.

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第一作者： Leonard F,Henrichs

第一单位： Institute for Materials Research, Engineering Building, University of Leeds, Leeds, United Kingdom.

作者： Leonard F,Henrichs ^[1] ; L I,Chen ^[2] ; Andrew J,Bell ^[1]

作者单位： Institute for Materials Research, Engineering Building, University of Leeds, Leeds, United Kingdom. ^[1] School of Electronic and Electrical Engineering, University of Leeds, Leeds, United Kingdom. ^[2]

关键词 Batch processing PFM SEM TEM grid beam focused ion focused ion-beam high-throughput marking microscopy nanotechnology sample preparation

DOI 10.1111/jmi.12337

PMID 26552050

发布时间 2016-03-23

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Journal of microscopy

2016年262卷1期

28-32页

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