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首页> Sensors (Basel, Switzerland)> Guidelines for Designing Surface Ion Traps Using the Boundary Element Method.

Guidelines for Designing Surface Ion Traps Using the Boundary Element Method.

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第一作者： Seokjun,Hong
第一单位： ISRC/ASRI, Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. sjhong84@snu.ac.kr.
作者： Seokjun,Hong [1] ; Minjae,Lee [2] ; Hongjin,Cheon [3] ; Taehyun,Kim [4] ; Dong-Il Dan,Cho [5]
作者单位： ISRC/ASRI, Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. sjhong84@snu.ac.kr. [1] ISRC/ASRI, Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. mjlee88@snu.ac.kr. [2] ISRC/ASRI, Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. hjcheon@snu.ac.kr. [3] Quantum Tech. Lab., SK Telecom, Seongnam-si, Gyeonggi-do 463-784, Korea. quantum@sk.com. [4] ISRC/ASRI, Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. dicho@snu.ac.kr. [5]
关键词 boundary element methoddesign optimizationelectrode dimensionsmicrofabricationsurface ion trap
DOI 10.3390/s16050616
PMID 27136559
发布时间 2018-11-13
提交
  • 浏览26
Sensors (Basel, Switzerland)

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2016年16卷5期

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