换一批Publisher's Note: "High sensitivity measurement system for the direct-current, capacitance-voltage, and gate-drain low frequency noise characterization of field effect transistors" [Rev. Sci. Instrum. 87, 044702 (2016)].
第一作者：
G,Giusi
第一单位：
University of Messina, I-98166 Messina, Italy.
作者：
DOI
10.1063/1.4950949
PMID
27250488
发布时间
2019-11-20
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