An Enhanced Technique for Ultrasonic Flow Metering Featuring Very Low Jitter and Offset.

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第一作者： Assia,Hamouda

第一单位： Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik, Technische Universität Berlin, Einsteinufer 17, Berlin 10587, Germany. hamouda@mikro.ee.tu-berlin.de.

作者： Assia,Hamouda ^[1] ; Otto,Manck ^[2] ; Mohamed Lamine,Hafiane ^[3] ; Nour-Eddine,Bouguechal ^[4]

作者单位： Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik, Technische Universität Berlin, Einsteinufer 17, Berlin 10587, Germany. hamouda@mikro.ee.tu-berlin.de. ^[1] Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik, Technische Universität Berlin, Einsteinufer 17, Berlin 10587, Germany. manck@mikro.ee.tu-berlin.de. ^[2] Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik, Technische Universität Berlin, Einsteinufer 17, Berlin 10587, Germany. hafiane_lamine@mikro.ee.tu-berlin.de. ^[3] Laboratoire d'Electronique Avancée, Département d'Electronique, Université Batna 2, Rue Chahid Boukhlouf, Batna 05000, Algeria. bougnour@univ-batna.dz. ^[4]

关键词 jitter least-square-sine-fitting transit time difference (TTD)ultrasonic water flow meter

DOI 10.3390/s16071008

PMID 27367701

发布时间 2018-01-24

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