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    首页> Scientific reports> Measurement and Modeling of Short and Medium Range Order in Amorphous Ta2O5 Thin Films.

    Measurement and Modeling of Short and Medium Range Order in Amorphous Ta2O5 Thin Films.

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    作者： Badri,Shyam [1] ; Kevin H,Stone [1] ; Riccardo,Bassiri [2] ; Martin M,Fejer [2] ; Michael F,Toney [1] ; Apurva,Mehta [1]
    作者单位： Stanford Synchrotron Radiation Lightsource, SLAC National Accelerator Laboratory, Menlo Park CA 94025, United States. [1] E. L. Ginzton Laboratory, Stanford University, Stanford CA 94305, United States. [2]
    DOI 10.1038/srep32170
    PMID 27562542
    发布时间 2018-11-13
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