更多
通知
医学文献 >>
  • 检索发现
  • 增强检索
知识库 >>
  • 临床诊疗知识库
  • 中医药知识库
评价分析 >>
  • 机构
  • 作者
默认
×
更多
在国内外文献保障系统中检索
高级检索 检索偏好
热搜词：
换一批
  • 二次检索
  • 检索历史
论文 期刊
取消
高级检索

检索历史 清除

首页> Ultramicroscopy> Experimental evidence concerning the significant information depth of electron backscatter diffraction (EBSD).

Experimental evidence concerning the significant information depth of electron backscatter diffraction (EBSD).

导出 LinkOut
翻译 打印 收藏 分享
  • 新浪微博
  • 微信
  • QQ空间
  • 豆瓣
 纠错
广告
第一作者： Wolfgang,Wisniewski
第一单位： Otto-Schott-Institut, Jena University, Fraunhoferstr. 6, 07743 Jena, Germany. Electronic address: wolfgang.w@uni-jena.de.
作者： Wolfgang,Wisniewski [1] ; Stefan,Saager [2] ; Andrea,Böbenroth [3] ; Christian,Rüssel [4]
作者单位： Otto-Schott-Institut, Jena University, Fraunhoferstr. 6, 07743 Jena, Germany. Electronic address: wolfgang.w@uni-jena.de. [1] Fraunhofer Institute for Organic Electronics, Electron Beam and Plasma Technology FEP, Winterbergstraße 28, 01277 Dresden, Germany. [2] Fraunhofer Institute for the Microstructure of Materials and Systems IMWS, Walter-Huelse-Straße 1, 06120 Halle (Saale), Germany. [3] Otto-Schott-Institut, Jena University, Fraunhoferstr. 6, 07743 Jena, Germany. [4]
关键词 Amorphous SiElectron backscatter diffraction (EBSD)Information depthSi
DOI 10.1016/j.ultramic.2016.11.004
PMID 27865909
发布时间 2018-06-28
提交
  • 浏览7
Ultramicroscopy

Ultramicroscopy

2017年173卷

1-9页

相似文献

  • 中文期刊
  • 外文期刊
  • 学位论文
  • 会议论文

加载中！

加载中！

加载中！

加载中！

  • 浏览7

相关期刊

加载中！

法律状态公告日 法律状态 法律状态信息

特别提示：本网站仅提供医学学术资源服务，不销售任何药品和器械，有关药品和器械的销售信息，请查阅其他网站。

  • 客服热线：4000-115-888 转3 (周一至周五：8:00至17:00)

  • |

  • 客服邮箱：yiyao@wanfangdata.com.cn

  • 违法和不良信息举报电话：4000-115-888，举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn，举报专区

官方微信
万方医学小程序
new医文AI 翻译 充值 订阅 收藏 移动端

官方微信

万方医学小程序

使用
帮助
Alternate Text
调查问卷