第一作者:
Wenbin,Zhang
第一单位:
Department of Automation of Testing and Control, Harbin Institute of Technology, Harbin, China. zwbscg@hit.edu.cn.
作者:
DOI
10.3390/s8116952
PMID
27873909
发布时间
2018-01-04
- 浏览4
Sensors (Basel, Switzerland)
6952-6971页
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