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    第一作者： Hyungwoo,Lee
    第一单位： Center for Electricity & Magnetism, Korea Research Institute of Standards and Science , Daejeon 305-340, Korea.
    作者： Hyungwoo,Lee [1] ; Duckhyung,Cho ; Shashank,Shekhar ; Jeongsu,Kim ; Jaesung,Park ; Byung Hee,Hong ; Seunghun,Hong
    作者单位： Center for Electricity & Magnetism, Korea Research Institute of Standards and Science , Daejeon 305-340, Korea. [1]
    关键词 atomic force microscopyfinite element methodgraphenelow-frequency noisenoise imaging
    DOI 10.1021/acsnano.6b05288
    PMID 27934081
    发布时间 2018-07-19
    提交
    • 浏览8
    ACS nano

    ACS nano

    2016年10卷11期

    10135-10142页

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