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首页> Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada> Modern Focused-Ion-Beam-Based Site-Specific Specimen Preparation for Atom Probe Tomography.

Modern Focused-Ion-Beam-Based Site-Specific Specimen Preparation for Atom Probe Tomography.

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第一作者： Ty J,Prosa
第一单位： Cameca Instruments Inc.,5500 Nobel Drive,Madison,WI 53711,USA.
作者： Ty J,Prosa [1] ; David J,Larson [1]
作者单位： Cameca Instruments Inc.,5500 Nobel Drive,Madison,WI 53711,USA. [1]
关键词 atom probe tomographyfocused ion beamspecimen preparationtransmission electron backscatter diffractiontransmission electron microscopy
DOI 10.1017/S1431927616012642
PMID 28162119
发布时间 2018-07-20
提交
  • 浏览61
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada

Microscopy and microanalysis

2017年23卷2期

194-209页

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