• 医学文献
  • 知识库
  • 评价分析
  • 全部
  • 中外期刊
  • 学位
  • 会议
  • 专利
  • 成果
  • 标准
  • 法规
  • 临床诊疗知识库
  • 中医药知识库
  • 机构
  • 作者
热搜词:
换一批
论文 期刊
取消
高级检索

检索历史 清除

医学文献>>
  • 全部
  • 中外期刊
  • 学位
  • 会议
  • 专利
  • 成果
  • 标准
  • 法规
知识库 >>
  • 临床诊疗知识库
  • 中医药知识库
评价分析 >>
  • 机构
  • 作者
热搜词:
换一批

The EIGER detector for low-energy electron microscopy and photoemission electron microscopy.

广告
作者: G,Tinti [1] ; H,Marchetto [2] ; C A F,Vaz [1] ; A,Kleibert [1] ; M,Andrä [1] ; R,Barten [1] ; A,Bergamaschi [1] ; M,Brückner [1] ; S,Cartier [1] ; R,Dinapoli [1] ; T,Franz [2] ; E,Fröjdh [1] ; D,Greiffenberg [1] ; C,Lopez-Cuenca [1] ; D,Mezza [1] ; A,Mozzanica [1] ; F,Nolting [1] ; M,Ramilli [1] ; S,Redford [1] ; M,Ruat [1] ; Ch,Ruder [1] ; L,Schädler [1] ; Th,Schmidt [3] ; B,Schmitt [1] ; F,Schütz [2] ; X,Shi [1] ; D,Thattil [1] ; S,Vetter [1] ; J,Zhang [1]
作者单位: Paul Scherrer Institut, CH-5232 Villigen PSI, Switzerland. [1] ELMITEC Elektronenmikroskopie GmbH, D-38678 Clausthal-Zellerfeld, Germany. [2] Fritz-Haber-Institute of the Max-Planck-Society, Department of Chemical Physics, D-14195 Berlin, Germany. [3]
DOI 10.1107/S1600577517009109
PMID 28862618
发布时间 2019-11-20
提交
  • 浏览11
Journal of synchrotron radiation

相似文献

  • 中文期刊
  • 外文期刊
  • 学位论文
  • 会议论文

加载中!

加载中!

加载中!

加载中!

特别提示:本网站仅提供医学学术资源服务,不销售任何药品和器械,有关药品和器械的销售信息,请查阅其他网站。

  • 客服热线:4000-115-888 转3 (周一至周五:8:00至17:00)

  • |
  • 客服邮箱:yiyao@wanfangdata.com.cn

  • 违法和不良信息举报电话:4000-115-888,举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn,举报专区

官方微信
万方医学小程序
new翻译 充值 订阅 收藏 移动端

官方微信

万方医学小程序

使用
帮助
Alternate Text
调查问卷