论文期刊

取消

高级检索

检索历史清除

首页> ACS applied materials & interfaces> Structural Analyses of Phase Stability in Amorphous and Partially Crystallized Ge-Rich GeTe Films Prepared by Atomic Layer Deposition.

Structural Analyses of Phase Stability in Amorphous and Partially Crystallized Ge-Rich GeTe Films Prepared by Atomic Layer Deposition.

导出 LinkOut

翻译打印收藏纠错

作者： Taehong,Gwon ^[1] ; Ahmed Yousef,Mohamed ^[2] ; Chanyoung,Yoo ^[1] ; Eui-Sang,Park ^[1] ; Sanggyun,Kim ^[1] ; Sijung,Yoo ^[1] ; Han-Koo,Lee ^[3] ; Deok-Yong,Cho ^[2] ; Cheol Seong,Hwang ^[1]

作者单位： Department of Materials Science and Engineering, and Inter-University Semiconductor Research Center, Seoul National University , Seoul 08826, Republic of Korea. ^[1] IPIT & Department of Physics, Chonbuk National University , Jeonju 54896, Republic of Korea. ^[2] Pohang Accelerator Laboratory , Pohang 37673, Republic of Korea. ^[3]

关键词 Ge-rich GeTe Raman spectroscopy R?T TEM X-ray absorption spectroscopy atomic layer deposition phase change memory phase stability

DOI 10.1021/acsami.7b12946

PMID 29111646

发布时间 2018-07-24

翻译满意度评价：

准确一般字义偏差语意偏离译文作用小提交

浏览12

ACS applied materials & interfaces

ACS applied materials & interfaces

2017年9卷47期

41387-41396页

相似文献

中文期刊
外文期刊
学位论文
会议论文

浏览12

ACS applied materials & interfaces

点击下载本期目录封面

ACS applied materials & interfaces

2017年9卷47期

41387-41396页

相关期刊

特别提示：本网站仅提供医学学术资源服务，不销售任何药品和器械，有关药品和器械的销售信息，请查阅其他网站。

客服热线：4000-115-888 转3 (周一至周五：8:00至17:00)
|
客服邮箱：yiyao@wanfangdata.com.cn

违法和不良信息举报电话：4000-115-888，举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn，举报专区

官方微信

万方医学小程序

关于我们网站地图知识产权

北京万方数据股份有限公司

万方数据电子出版社

京ICP证010071号

京公网安备11010802020237号

京ICP备08100800号-1

违法和不良信息举报电话：4000-115-888，举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn，举报专区

new翻译充值订阅收藏移动端

官方微信

万方医学小程序

调查问卷